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J-GLOBAL ID：200903051300698890

超音波診断装置

Inventor： 青木 誠司 ,  加藤 隆一 ,  中村 恭大
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992314807
Publication number (International publication number)：1994154226
Application date： Nov. 25, 1992
Publication date： Jun. 03, 1994
Summary：

【要約】【目的】 超音波走査部位の体積計算を行う操作を走査中に行う必要がなく、所望の超音波走査部位の体積を求める時間を短縮して被検者の診断負担を軽減する。【構成】 超音波探触子11、送信部12、受信部13、フレームメモリ14、表示部15、制御部16、演算部17、入力装置18、拡張フレームメモリ19、切換え部20を有する。超音波で走査部位の断層像データを得る。この断層像データを拡張フレームメモリ19で記憶する。この記憶した断層像データを指定されたときに読み出して、この断層像データから超音波走査部位の体積を演算した体積結果を表示する。

Claim (excerpt)：

被検体における超音波走査部位の断層像を得る超音波断層処理手段と、上記超音波診断手段からの上記断層像を記憶する記憶手段と、上記記憶手段から記憶した断層像を指定されたときに読み出す読み出し手段と、上記読み出し手段で読み出した断層像から上記超音波走査部位の体積を演算する演算手段と、上記演算手段で演算した上記超音波走査部位の体積結果を表示する表示手段とを備えることを特徴とする超音波診断装置。