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J-GLOBAL ID：200903051302678889
粒度測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
瀧野 秀雄 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993074501
Publication number (International publication number)：1994288892
Application date： Mar. 31, 1993
Publication date： Oct. 18, 1994
Summary：
【要約】【目的】塩等の粒度を非接触でリアルタイムに測定できる粒度測定装置を提供すいる。【構成】光学系1において回転ディスク13の干渉フィルタ13a1 ,13a2,13a3 で2種類の粒度測定赤外線と参照赤外線を分光する。粒度測定赤外線は波長帯域1680±100nm,2310±100nmとし、参照赤外線は波長帯域1850±100nmとする。粒度測定赤外線と参照赤外線を被測定物Sに照射して反射光を赤外線検出器18で光電変換する。アナログ処理部2で信号の同期をとって粒度測定赤外線を参照赤外線の電圧信号をデジタル処理部3に入力し、演算処理部32で粒度測定赤外線と参照赤外線の電圧信号から粒度を演算して表示部33に表示する。
Claim (excerpt)：
被測定物の粒度により赤外線吸収量が変化する粒度測定赤外線を被測定物に照射するとともにこの被測定物からの赤外線の反射光を受光する光学系と、前記光学系で受光した前記粒度測定赤外線の反射光量と予め設定された検量線の情報とに基づいて粒度を演算する粒度演算手段と、を備えたことを特徴とする粒度測定装置
IPC (2)：
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