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J-GLOBAL ID:200903051316556387
検査方法および装置、放射線断層撮影装置並びに記録媒体
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
井島 藤治 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000026940
Publication number (International publication number):2001212132
Application date: Feb. 04, 2000
Publication date: Aug. 07, 2001
Summary:
【要約】【課題】 放射線検出器の感度分布の変化を簡便に検査する検査方法および装置、そのような検査装置を備えた放射線断層撮影装置、並びに、そのような検査機能をコンピュータに実現させるプログラムを記録した記録媒体を実現する。【解決手段】 放射線源から放射線検出器24に、受光面における照射領域を変えてそれぞれ放射線400照射し、放射線検出信号の比に基づいて放射線検出器24の性能を判定する。
Claim (excerpt):
放射線源から放射線検出器に受光面における照射領域を変えてそれぞれ放射線を照射し、前記それぞれ照射した放射線に対応する放射線検出信号をそれぞれ測定し、前記それぞれ測定した放射線検出信号の比を求め、前記比に基づいて前記放射線検出器の性能を判定する、ことを特徴とする検査方法。
IPC (5):
A61B 6/03 333
, A61B 6/03 320
, A61B 6/03
, G01T 1/20
, G01T 1/29
FI (5):
A61B 6/03 333 B
, A61B 6/03 320 P
, A61B 6/03 320 K
, G01T 1/20 G
, G01T 1/29 B
F-Term (20):
2G088EE02
, 2G088FF02
, 2G088FF14
, 2G088GG19
, 2G088JJ05
, 2G088JJ11
, 2G088JJ36
, 2G088KK24
, 2G088LL26
, 2G088MM04
, 4C093CA41
, 4C093CA50
, 4C093EA14
, 4C093EB12
, 4C093EB13
, 4C093EB17
, 4C093FA16
, 4C093FD09
, 4C093FD11
, 4C093GA05
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