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J-GLOBAL ID：200903051515814247

蛍光X線分析方法

Inventor： 片岡 由行 ,  河野 久征 ,  井上 稔
Applicant, Patent owner： 理学電機工業株式会社
Agent (1)： 杉本 修司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995068747
Publication number (International publication number)：1996240543
Application date： Mar. 01, 1995
Publication date： Sep. 17, 1996
Summary：

【要約】【目的】 X線を用いて、組成が未知の分析対象試料に対し、その分析対象試料がいわゆる超軽元素を含むものであっても、複数の標準試料の中から、組成が近似する標準試料を検索できる方法を提供する。【構成】 分析対象試料13の各含有元素の含有率を算出することにより分析対象試料13の概略の組成を求め、なおかつ、前記概略組成に所定の元素よりも原子番号の小さい元素が含まれる場合には、対比する標準試料3における当該元素の蛍光X線強度および含有率ならびに分析対象試料13における当該元素の蛍光X線強度から前記概略組成を補正して、標準試料3の組成と比較する。

Claim (excerpt)：

X線を用いて、組成が未知の分析対象試料に対し、組成と各含有元素から発生する蛍光X線強度とが既知で組成が相異なる複数の標準試料の中から、組成が近似する標準試料を検索する方法において、分析対象試料の組成を仮定して計算した各含有元素の蛍光X線の理論強度または予め計算した理論マトリックス補正定数と、分析対象試料に1次X線を照射して発生した各含有元素の蛍光X線の測定強度とに基づいて、分析対象試料の各含有元素の含有率を算出することにより分析対象試料の概略の組成を求め、前記概略組成とすべての標準試料の組成を対比し、前記概略組成に所定の元素よりも原子番号の小さい元素が含まれない場合には、前記概略組成をそのまま比較用組成とし、前記概略組成に前記所定の元素よりも原子番号の小さい元素が含まれる場合には、対比する標準試料における当該元素の蛍光X線強度および含有率ならびに分析対象試料における当該元素の蛍光X線強度から前記概略組成を補正して比較用組成とし、前記比較用組成を構成する各元素の含有率と対比する標準試料の組成を構成する当該元素の含有率との差に基づいて、分析対象試料に組成が近似する標準試料を検索することを特徴とする検索方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 蛍光X線分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-127034   Applicant：株式会社島津製作所
• 製鋼スラグに含まれている被還元酸化物の酸素定量方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-115965   Applicant：日新製鋼株式会社
• 蛍光X線分析方法および該方法に使用する装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-060423   Applicant：住友金属工業株式会社