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J-GLOBAL ID：200903051541854532

画像を幾何学的に計測するための計測処理装置

Inventor： 永田 武史 ,  志村 一男 ,  大久保 猛
Applicant, Patent owner： 富士写真フイルム株式会社
Agent (1)： 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000334576
Publication number (International publication number)：2002140688
Application date： Nov. 01, 2000
Publication date： May. 17, 2002
Summary：

【要約】【課題】 同一被写体についての略同一部位を表す複数の画像の幾何学情報を計測する計測処理装置において、各画像における計測点の対応関係や計測結果の差異などを容易に認識できるようにする。【解決手段】 画像表示手段190の表示面上に表示された計測対象画像Q1を幾何学的に計測するための計測点を設定する計測点設定手段140と、計測対象画像Q1と該計測対象画像Q1の計測以前に行なった計測で対象とした計測過去画像Q2とを、該計測対象画像Q1の所定の基準点と計測過去画像Q2における計測対象画像Q2の所定の基準点と対応する対応基準点とが表示面上の略同じ位置に表示されるように位置合わせを行なって重ね表示させる表示制御手段180とを設ける。これにより、計測過去画像Q2上の対応計測点を参照しながら、計測対象画像Q1上の適正位置に計測点を設定することができるようになる。

Claim (excerpt)：

画像表示手段と、該画像表示手段の表示面上に表示された計測対象画像を幾何学的に計測するための計測点を設定する計測点設定手段と、この設定された計測点の位置情報に基づいて前記表示面上に表示された画像を幾何学的に計測する幾何学情報計測手段とを備えた画像を幾何学的に計測するための計測処理装置において、前記計測対象画像と該計測対象画像と対応する計測基準画像とを、該計測対象画像の所定の基準点と前記計測基準画像における前記計測対象画像の所定の基準点と対応する対応基準点とが前記表示面上の略同じ位置に表示されるように位置合わせを行なって重ね表示させる表示制御手段を備えたことを特徴とする計測処理装置。

IPC (6)：

G06T 1/00 290 ,  A61B 5/00 ,  A61B 6/00 360 ,  G01B 11/00 ,  G06T 3/00 300 ,  G06T 7/60 150

FI (7)：

G06T 1/00 290 A ,  A61B 5/00 G ,  A61B 5/00 D ,  A61B 6/00 360 B ,  G01B 11/00 A ,  G06T 3/00 300 ,  G06T 7/60 150 B

F-Term (29)：

2F065AA03 ,  2F065BB27 ,  2F065CC00 ,  2F065FF61 ,  2F065QQ24 ,  2F065RR09 ,  2F065SS13 ,  4C093AA05 ,  4C093AA16 ,  4C093CA18 ,  4C093CA21 ,  4C093FF21 ,  4C093FF28 ,  4C093FF35 ,  4C093FF37 ,  4C093FG01 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE08 ,  5B057DA04 ,  5L096BA06 ,  5L096FA64 ,  5L096FA67 ,  5L096HA01 ,  5L096JA01