Pat

J-GLOBAL ID：200903051557747922

3次元測定装置

Inventor： 芝田 兆史
Applicant, Patent owner： ミノルタ株式会社
Agent (1)： 久保 幸雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000213790
Publication number (International publication number)：2002031513
Application date： Jul. 14, 2000
Publication date： Jan. 31, 2002
Summary：

【要約】【課題】マーキングが出来ない物体の種類を低減し、多様な物体について効率的にモデリングを行うための3次元測定環境を実現する。【解決手段】対象物体90を撮影した画像データに基づいて立体形状をデータ化する3次元測定装置10において、対象物体90にマーキングのためのスポットS1,S2を形成する投光手段31と、画像データを得るための撮影と同じ配置条件で、スポットS1,S2が形成された状態の対象物体90を撮影する画像入力手段1とを設け、立体形状を示す3次元データに対応づけて、画像入力手段によって撮影されたテクスチャ情報を出力させる。

Claim (excerpt)：

対象物体を撮影した画像データに基づいて立体形状をデータ化する3次元測定装置であって、対象物体にマーキングのためのスポットを形成する投光手段と、前記画像データを得るための撮影と同じ配置条件で、前記スポットが形成された状態の対象物体を撮影する画像入力手段とを有し、立体形状を示す3次元データに対応づけて、前記画像入力手段によって撮影されたテクスチャ情報を出力することを特徴とする3次元測定装置。

IPC (2)：

G01B 11/24 ,  G06T 1/00 400

FI (3)：

G06T 1/00 400 Z ,  G01B 11/24 A ,  G01B 11/24 K

F-Term (19)：

2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF23 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ03 ,  2F065MM04 ,  2F065UU02 ,  5B047AA30 ,  5B047BA04 ,  5B047BA08 ,  5B047BC09 ,  5B047BC12 ,  5B047BC14 ,  5B047CA19 ,  5B047CB17