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J-GLOBAL ID：200903051569175991

粒子分析装置および分布データ相違度評価装置

Inventor： 松原 重徳
Applicant, Patent owner： 東亜医用電子株式会社
Agent (1)： 野河 信太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995174971
Publication number (International publication number)：1997026388
Application date： Jul. 11, 1995
Publication date： Jan. 28, 1997
Summary：

【要約】【構成】 検体に含まれる粒子の特徴を粒子個々に測定し、得られた測定値に基づいて粒子の分布データを作成する粒子分析器と、作成した分布データと所定の基準分布データとの差を演算してその差の分布データを作成する減算部と、分布データを平滑化する平滑部と、作成した分布データの基準分布データに対する相違度を平滑化された差の分布データに基づいて算出する相違度算出部をさらに備えてなる。【効果】 測定によって得た分布データの基準分布データに対する相違度αを定量化することができるので、分布データに対して定量的な評価を行えるようになり、特に疾患の診断や粒子分析装置の評価などを定量的に行うことが可能となる。

Claim (excerpt)：

検体に含まれる粒子の特徴を粒子個々に測定し、得られた測定値に基づいて粒子の分布データを作成する粒子分析器と、作成した分布データと所定の基準分布データとの差を演算してその差の分布データを作成する減算部と、分布データを平滑化する平滑部と、作成した分布データの基準分布データに対する相違度を平滑化された差の分布データに基づいて算出する相違度算出部をさらに備えてなる粒子分析装置。