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J-GLOBAL ID：200903051659925329

検眼装置

Inventor： 細井 良晋
Applicant, Patent owner： 株式会社ニデック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995222693
Publication number (International publication number)：1997047430
Application date： Aug. 07, 1995
Publication date： Feb. 18, 1997
Summary：

【要約】【課題】 非測定眼の暗順応による検査への影響をできる限り抑える。【解決手段】 左右一対のレンズユニット内に、多数の光学素子が配置された複数の回転ディスクをそれぞれ持ち、該回転ディスクの回転により所望の光学特性の光学素子を検査窓に切り換え配置して、被検眼の屈折力を自覚的に検査する検眼装置において、前記回転ディスクに可視光の少なくても一部を透過するが視標の視認が困難な光学素子を配置し、片眼検査時に非測定眼側の検査窓に配置することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

左右一対のレンズユニット内に、多数の光学素子が配置された複数の回転ディスクをそれぞれ持ち、該回転ディスクの回転により所望の光学特性の光学素子を検査窓に切り換え配置して、被検眼の屈折力を自覚的に検査する検眼装置において、前記回転ディスクに可視光の少なくても一部を透過するが視標の視認が困難な光学素子を配置し、片眼検査時に非測定眼側の検査窓に配置することを特徴とする検眼装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 自覚眼屈折計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-272375   Applicant：キヤノン株式会社

Cited by examiner (1)

• 自覚眼屈折計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-272375   Applicant：キヤノン株式会社