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J-GLOBAL ID:200903051718200325

地盤の調査方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 松本 雅利
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000385030
Publication number (International publication number):2002181953
Application date: Dec. 19, 2000
Publication date: Jun. 26, 2002
Summary:
【要約】【課題】 方位の確定した連続した情報を得ること。【解決手段】 調査方法では、地盤10中に所定の孔径を有する削孔12が、調査対象深度まで掘削形成される。地盤調査装置14は、測定部16と、姿勢制御器18と、データの演算記録器20とを備えている。測定部16は、削孔12内に吊下げ支持されていて、電流電極と電位電極と、ジャイロとを備えている。姿勢制御器18は、電流電極と電位電極とを備えた測定部16の姿勢,位置を制御するものであって、姿勢は、ジャイロの検出信号により制御される。演算記録器20は、電流電極と地上側のアース地点との間に、直流電流を流した際の、電位電極と地上側のアース地点との間の電位差を測定し、これらの測定値から比抵抗値ρを求める。この場合には、測定部16の姿勢を姿勢制御器18により制御して、その方位が一定に保たれるようにしながら、削孔12の深度方向に沿った比抵抗値ρを求める。
Claim (excerpt):
地盤中に掘削された削孔内に、電流および電位電極を備えた測定部を吊下げ設置し、前記電流電極と地盤との間に所定の電流を流した時に、前記電位電極と地盤との間の電位差を測定して、前記電極設置個所の比抵抗を求め、得られた比抵抗値に基づいて、地盤の緩みや亀裂発生などの性状を把握する地盤の調査方法において、前記削孔内における前記測定部の姿勢を制御して、その方位を一定に保ちながら、前記削孔の深度方向に沿った前記比抵抗を求めることを特徴とする地盤の調査方法。
IPC (2):
G01V 3/04 ,  E02D 1/00
FI (2):
G01V 3/04 ,  E02D 1/00
F-Term (4):
2D043AA01 ,  2D043AA09 ,  2D043AB00 ,  2D043AC01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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