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J-GLOBAL ID：200903051787898547

ICハンドラ

Inventor： 矢部 鏡司 ,  杉山 滋章 ,  川島 英治 ,  尾川 健男
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  日立清水エンジニアリング株式会社
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992136565
Publication number (International publication number)：1993335386
Application date： May. 28, 1992
Publication date： Dec. 17, 1993
Summary：

【要約】【構成】ICハンドラ本体1内部にICリード検査機構2を設け、ICテスタによる特性検査結果と、ICリード検査機構2によるリード外観検査結果により、ICの分類・回収をする。【効果】特性検査結果とリード外観検査結果によるICの分類・回収を同一装置で同一工程で行なうことができ、省スペース化,省力化を図ることができる。

Claim (excerpt)：

ICハンドラにおいて、ICのリード外観検査を行なう機能を有するICリード検査機構を、ハンドラ本体内に具備したことを特徴とするICハンドラ。

IPC (2)：

H01L 21/66 ,  G01R 31/26