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J-GLOBAL ID：200903051796938616

形状記憶合金アクチュエータの位置制御方法

Inventor： 松木 薫
Applicant, Patent owner： オリンパス株式会社
Agent (1)： 斎藤 圭介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007177902
Publication number (International publication number)：2009013909
Application date： Jul. 06, 2007
Publication date： Jan. 22, 2009
Summary：

【課題】位置決めまでの応答を確保しつつ、アクチュエータの位置決め精度を向上させる形状記憶合金アクチュエータの位置制御方法を提供すること。【解決手段】 所定の長さに相当する指令抵抗値を設定する指令抵抗値設定ステップと、形状記憶合金の抵抗値を検出する抵抗値検出ステップと、指令抵抗値と検出された抵抗値とを比較する抵抗値比較ステップと、比較結果に基づいて指令抵抗値まで第1のゲインにより形状記憶合金の長さを制御する第1の制御ステップと、第1の制御ステップの終了条件を判定する終了判定ステップと、終了判定ステップの終了判定に伴い、比較結果に基づいて第1のゲインよりも小さい第2のゲインにより形状記憶合金の長さを保持し移動体を静止させる第2の制御ステップとを有し、再度、指令抵抗値が設定されるまで第2の制御ステップを継続することによって移動体の位置制御を行う。【選択図】図5

Claim (excerpt)：

通電加熱による相変態で形状記憶合金の伸縮に伴う抵抗値に基づき、前記形状記憶合金の長さを所定の長さに制御することによって、前記形状記憶合金に設置された移動体の位置を制御する形状記憶合金アクチュエータの位置制御方法において、 前記所定の長さに相当する指令抵抗値を設定する指令抵抗値設定ステップと、 前記形状記憶合金の伸縮に伴う抵抗値を検出する抵抗値検出ステップと、 前記指令抵抗値設定ステップで設定された前記指令抵抗値と、前記抵抗値検出ステップで検出された抵抗値とを比較する抵抗値比較ステップと、 前記抵抗値比較ステップで得られた比較結果に基づいて、前記指令抵抗値まで第1のゲインにより前記形状記憶合金の長さを制御する第1の制御ステップと、 前記第1の制御ステップにおいて、前記第1の制御ステップの終了条件を判定する終了判定ステップと、 前記終了判定ステップの終了判定に伴い、前記比較結果に基づいて、前記第1のゲインよりも小さい第2のゲインにより前記形状記憶合金の長さを保持することによって前記移動体を静止させる第2の制御ステップとを有し、 再度、指令抵抗値が設定されるまで前記第2の制御ステップを継続することによって前記移動体の位置制御を行うことを特徴とする形状記憶合金アクチュエータの位置制御方法。

IPC (1)：

F03G 7/06

FI (1)：

F03G7/06 E

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 形状記憶合金アクチュエータ制御装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-063791   Applicant：オリンパス光学工業株式会社

Cited by examiner (4)

• 駆動ユニットおよび可動モジュール
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-122157   Applicant：コニカミノルタオプト株式会社
• アクチュエータ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-321356   Applicant：株式会社東芝
• 特開平4-340110
  
• 特開平1-264795
  

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• ヒステリシスモデルを用いたSMAアクチュエータの位置制御