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J-GLOBAL ID：200903051823764625

X線CT装置

Inventor： 石井 創
Applicant, Patent owner： 株式会社日立メディコ
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995325209
Publication number (International publication number)：1997140699
Application date： Nov. 21, 1995
Publication date： Jun. 03, 1997
Summary：

【要約】【課題】スキャナからの計測データに対して各種補正,Log変換等の前処理を行う補正演算器の障害発生時にX線曝射を停止させ、被検体に対するX線の無効被曝を防止する。【解決手段】計測時にまずテストデータメモリ8に格納されたテストデータをその後にスキャナ13からの実際の計測データを補正演算器1に順次入力させる切替回路9と、スキャナからの実際の計測データに先立ち入力されたテストデータに対する補正演算器による実際の前処理結果値と期待値データメモリ10に格納された補正演算器による前処理の期待値とを比較し両者が不一致の場合に演算処理手段5にX線曝射を停止させる信号を与えてX線曝射を停止させる比較回路11とを設ける。

Claim (excerpt)：

スキャナと、このスキャナからの計測データに対して前処理を行う補正演算器と、この補正演算器からのRAWデータを一時的に格納するRAWデータバッファと、上記RAWデータに基づきCT画像データを得る再構成演算器と、この再構成演算器からのCT画像データをCT画像として表示する表示装置と、装置各部を制御する演算処理手段とを備えてなるX線CT装置において、所定のテストデータを格納するテストデータメモリと、計測時にまず上記テストデータメモリに格納されたテストデータをその後に上記スキャナからの実際の計測データを上記補正演算器に順次入力させる切替回路と、上記テストデータに対する上記補正演算器による前処理の期待値を格納する期待値データメモリと、上記スキャナからの実際の計測データに先立ち上記切替回路を介して入力された上記テストデータに対する上記補正演算器による実際の前処理結果値と上記期待値データメモリに格納された期待値とを比較し両者が不一致の場合に上記演算処理手段に少なくともX線曝射を停止させる信号を与えてX線曝射を停止させる比較回路とを具備することを特徴とするX線CT装置。

IPC (2)：

A61B 6/03 350 ,  A61B 6/03 321

FI (2)：

A61B 6/03 350 A ,  A61B 6/03 321 F