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J-GLOBAL ID：200903051861948420

X線ラインセンサ透視装置

Inventor： 藤井 正司 ,  宇山 喜一郎
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 三好 秀和 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993050631
Publication number (International publication number)：1994265486
Application date： Mar. 11, 1993
Publication date： Sep. 22, 1994
Summary：

【要約】【目的】 被検査物、検査目的および要求性能に応じた最適なデータ収集条件を設定し得るX線ラインセンサ透視装置を提供する。【構成】 搬送速度、データ収集ピッチ、コリメータ開口寸法、データ積分時間、X線条件、X線ジオメトリを含む複数のデータ収集条件のうち所望の条件をデータ収集条件指定部13で指定し、この指定された所望の条件を満足するようにX線制御部11、コリメータ制御部22、データ収集部31、搬送制御部41を制御している。

Claim (excerpt)：

X線源からX線を発生し、このX線を被検査物に向けて照射し、被検査物を透過したX線をX線検出手段で検出し、該X線検出手段で検出したX線透過データをデータ収集手段で収集して被検査物の透視画像を得るX線ラインセンサ透視装置であって、被検査物を搬送する搬送速度、データ収集ピッチ、X線源から発生するX線をコリメートするコリメート手段の開口寸法、データ収集手段におけるデータ積分時間、被検査物を照射するX線条件、X線ジオメトリを含む複数のデータ収集条件のうち所望の条件を指定し得る条件指定手段と、該条件指定手段で指定された前記所望の条件を満足するように制御する制御手段とを有することを特徴とするX線ラインセンサ透視装置。

IPC (4)：

G01N 23/04 ,  G03B 42/02 ,  G03G 15/00 115 ,  H04N 7/18