Pat
J-GLOBAL ID：200903051898775347

真円度を計測する手法に特長をもつ画像処理方法および画像処理装置

Inventor：
今田 宗利

About 今田 宗利

, 
圷 聖一

About 圷 聖一


Applicant, Patent owner：
シャープマニファクチャリングシステム株式会社

About シャープマニファクチャリングシステム株式会社

, 
株式会社オシキリ

About 株式会社オシキリ


Agent (2)： 西教 圭一郎 ,  杉山 毅至
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006134576
Publication number (International publication number)：2007305005
Application date： May. 13, 2006
Publication date： Nov. 22, 2007
Summary：
【課題】 誤判定することなく高精度に真円度を計測することが可能な真円度を計測する手法に特長をもつ画像処理方法および画像処理装置を提供する。【解決手段】 まず、ステップA1〜A4によって画像データに含まれる所定の画素群であるワーク部分を抽出して分離する。ステップA5では、分離した各ワークの輪郭探索を行い、外周に属する全画素の座標を検出する。ステップA6では、外周に属する画素の座標に基づいて、円の中心座標を検出する。ステップA7で、外周画素の座標と中心座標とから、中心から外周までの平均距離、最長距離、最短距離を算出し、ステップA8で、ワークの中心から外周までの平均距離、最大距離、最小距離を用いて真円度を計測する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
画像に含まれる円形状の真円度を計測する手法に特長をもつ画像処理方法であって、 所定の画素群を検出して画素群ごとに分離する分離ステップと、 分離した各画素群の外周に属する画素を検出する外周検出ステップと、 外周に属する画素に基づいて円の中心を検出する中心検出ステップと、 検出した中心と、外周に属する各画素との距離を算出する距離算出ステップと、 少なくとも、算出された距離のうち最も短い距離である最短距離と、算出された距離のうち最も長い距離である最長距離とに基づいて真円度を計測する計測ステップとを有することを特徴とする画像処理方法。
IPC (3)：
G06T 1/00 ,  G06T 7/60 ,  G01B 11/08
FI (5)：
G06T1/00 300 ,  G06T7/60 150C ,  G06T7/60 150H ,  G06T7/60 200C ,  G01B11/08 H
F-Term (39)：
2F065AA17 ,  2F065AA26 ,  2F065AA48 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ42 ,  2F065UU05 ,  5B057AA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB06 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE09 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB08 ,  5B057DC02 ,  5B057DC03 ,  5B057DC04 ,  5B057DC05 ,  5B057DC17 ,  5L096BA08 ,  5L096CA14 ,  5L096EA43 ,  5L096FA04 ,  5L096FA06 ,  5L096FA32 ,  5L096FA59 ,  5L096FA62 ,  5L096FA65 ,  5L096FA66 ,  5L096GA34
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM