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J-GLOBAL ID：200903051917821584

軸受け異常予知装置

Inventor： 高橋 惇 ,  柴田 克彦 ,  伊藤 雄偉
Applicant, Patent owner： 高砂熱学工業株式会社
Agent (1)： 和田 憲治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992040580
Publication number (International publication number)：1993209782
Application date： Jan. 31, 1992
Publication date： Aug. 20, 1993
Summary：

【要約】【目的】 軸受けに対して非接触の状態で軸受けの振動状態を検出し,隠蔽された軸受けや多数の軸受けをもつ装置の軸受け異常とその余寿命を推定する装置を得る。【構成】 複数個の軸受けの各々に対し所定の距離だけ離れた位置に位置決め可能に設置され且つ超音波領域の音を計測するマイクロフォンと,このマイクロフォンで計測される各軸受けからの音を収録・解析して各軸受けの異常予知信号を出力する監視ステーションとからなり,該監視ステーションにおいて,マイクロフォンからの各軸受けに対応する測定音を包絡線処理装置で包絡線処理したうえ,周波数分析計て周波数の成分強度を分析し,管理用パソコンにおいて当該軸受けの初期正常時の登録された監視周波数の成分強度に対する今回計測された監視周波数の成分強度の倍率を計算し,この倍率から当該軸受けの異常および余寿命を推定する軸受け異常予知装置である。

Claim (excerpt)：

複数個の軸受けの各々に対し所定の距離だけ離れた位置に位置決め可能に設置され且つ超音波領域の音を計測するマイクロフォンと,このマイクロフォンで計測される各軸受けからの音を収録・解析して各軸受けの異常予知信号を出力する監視ステーションとからなり,該監視ステーションにおいて,マイクロフォンからの各軸受けに対応する測定音を包絡線処理装置で包絡線処理したうえ,周波数分析計て周波数の成分強度を分析し,管理用パソコンにおいて当該軸受けの初期正常時の登録された監視周波数の成分強度に対する今回計測された監視周波数の成分強度の倍率を計算し,この倍率から当該軸受けの異常および余寿命を推定する軸受け異常予知装置。

IPC (2)：

G01H 17/00 ,  G01M 13/04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平3-160326
  
• 特開昭59-081531
  
• 特開昭57-045428