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J-GLOBAL ID:200903052004282596

表面欠陥検出方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998167129
Publication number (International publication number):2000002668
Application date: Jun. 15, 1998
Publication date: Jan. 07, 2000
Summary:
【要約】【課題】 熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯の表面欠陥を高い精度で検出する。【解決手段】 本発明は、熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯1の表面画像を光学系20で撮影して、この撮影した表面画像に基づいて金属帯の表面に存在する欠陥を検出する表面欠陥検出方法に適用される。そして、金属帯の表面画像を撮像する光学系20の製造ライン上における搬送方向の位置を、該当位置を搬送される金属帯の表面温度がこの金属帯の表面酸化物の変態温度以上である位置に設定している。
Claim (excerpt):
熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯の表面画像を光学系で撮影して、この撮影した表面画像に基づいて前記金属帯の表面に存在する欠陥を検出する表面欠陥検出方法において、前記金属帯の表面画像を撮像する光学系の製造ライン上における搬送方向の位置を、該当位置を搬送される前記金属帯の表面温度がこの金属帯の表面酸化物の変態温度以上である位置に設定したことを特徴とする表面欠陥検出方法。
IPC (2):
G01N 21/89 ,  B21C 51/00
FI (2):
G01N 21/89 B ,  B21C 51/00 P
F-Term (8):
2G051AA37 ,  2G051AB07 ,  2G051AC15 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CA06 ,  2G051DA06 ,  2G051FA04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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