Pat

J-GLOBAL ID：200903052131955834

プラント内伝送器の監視方法及びシステム

Inventor： 長谷川 真 ,  有田 節男
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高崎 芳紘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996260752
Publication number (International publication number)：1998104385
Application date： Oct. 01, 1996
Publication date： Apr. 24, 1998
Summary：

【要約】【課題】 次回定期点検時における伝送器校正の要否を判断することのできるプロセス監視システムを提供する。【解決手段】 本発明のプロセス監視システム1は、伝送器3A〜3Cの出力を伝送器出力オンライン取得手段2A、2B、2Cで取得し、これらの伝送器出力を内部の伝送器出力格納手段に格納し、オンラインで取得された伝送器出力と伝送器出力格納手段に格納されている伝送器出力をもとに校正要否の判定を行い、情報表示装置10へ出力する。【効果】 オンラインで取得された伝送器出力をもとに将来予定されている定検時における考察対象伝送器のドリフト偏差量を予測でき、その定検における校正の要否を定検を待たずに判定することが可能となる。さらに、オンラインで伝送器出力を取得しドリフト偏差量を常に監視していることから伝送器の異常を早期に検出することが可能となる。

Claim (excerpt)：

プラント内に配置された多数の伝送器の出力をオンラインで取り込みデータベース化して格納すると共に、このオンラインで得た伝送器出力と過去に取り込んでデータベース化した対応する伝送器出力との対比を行って現在又は次回点検時に当該伝送器出力の校正を行うかチェックし表示するようにしたプラント内伝送器の監視方法。

IPC (4)：

G21C 17/00 ,  G01R 31/00 ,  G05B 9/02 ,  G05B 23/02 301

FI (4)：

G21C 17/00 L ,  G01R 31/00 ,  G05B 9/02 ,  G05B 23/02 301 V