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J-GLOBAL ID:200903052157974705
引っ張り試験用装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
三好 秀和 (外1名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1997537010
Publication number (International publication number):2000508765
Application date: Apr. 09, 1997
Publication date: Jul. 11, 2000
Summary:
【要約】締め付け手段(2、14)の相対的変位手段により引っ張り試験試料(24)の張力を測定し、その結果、印加される引っ張り試験の力とは無関係に引っ張り試験試料(24)の取り付けを行なう引っ張り試験装置。さらに、本装置は引っ張り試験手順と同時に引っ張り試験試料(24)の非接触外形寸法測定(26、27)を行なう。同時に、本装置により、引っ張り試験曲線の様子に応じて、引っ張り試験手順における機械張力、摩擦力、引っ張り速度に関して測定された値の補償が制御可能になる。さらに、最大引っ張り応力、さまざまな標準化された応力測定規準と破断面積が算出される。
Claim (excerpt):
引っ張り試験試料取り付けのための第1と第2の締め付け手段と、締め付け手段を互いに対して変位させる引っ張り手段と、張力測定手段と、引っ張り力測定手段と、論理ユニットと、表示ユニットとを具備する引っ張り試験装置を用いた材料試験方法であって、 引っ張り試験試料を、その端部を第1と第2の締め付け手段内でそれぞれ締め付けるすることによって取り付け、それによって前記引っ張り手段の力とは無関係の力によって締め付けを行う工程と、 前記引っ張り手段によって力を印加することによって、互いに対して前記締め付け手段を変位させる工程と、 前記引っ張り手段によって前記締め付け手段に印加される引っ張り力を測定する工程と、 互いに対する前記引っ張り手段の変位の測定も含め、前記引っ張り試験試料の張力を測定する工程と、 前記張力測定手段と前記引っ張り力測定手段とからの測定結果を、論理ユニットによって収集する工程と、 表示ユニットで測定結果を表示する工程と、を具備した方法であって、 前記引っ張り試験試料の直径を非接触で測定する工程であって、それによって前記引っ張り試験試料の非接触測定が前記締め付け手段の変位工程と同時に実行される工程と、 前記引っ張り試験試料の直径の非接触測定結果を、引っ張り試験からのの別の結果とともに、前記表示ユニットで表示する工程と、をさらに具備することを特徴とする方法。
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