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J-GLOBAL ID:200903052183943427

コンピュータ断層撮影装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (7): 鈴江 武彦 ,  村松 貞男 ,  坪井 淳 ,  橋本 良郎 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  河井 将次
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002202961
Publication number (International publication number):2004045212
Application date: Jul. 11, 2002
Publication date: Feb. 12, 2004
Summary:
【課題】X線幾何を変更しても、容易にオフセットスキャンできること。【解決手段】X線ビーム2を放射するX線源1と、被検体4を載置する回転テーブル5と、被検体4を透過したX線源1からの少なくとも回転テーブル5の回転軸13に直交する扇状のX線ビーム2を検出するX線検出器3とを備え、回転テーブル5の複数の回転位置で夫々X線検出器3により検出した被検体4の複数の透過データから、被検体4の断面像を得るコンピュータ断層撮影装置で、回転テーブル5をX線ビーム2の方向に移動させるxシフト機構8と、回転テーブル5をX線ビーム2の面に沿ってX線ビーム2を横切る方向に移動させるyシフト機構7と、少なくともyシフト機構7により回転テーブル5の回転中心を、X線ビーム2内の縁に近い所定の線上にあるオフセット位置/X線ビーム2の中心線上にあるセンター位置に移動させる移動位置計算手段、移動制御手段22とを備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
X線ビームを放射するX線源と、 被検体を載置する回転テーブルと、 前記被検体を透過した前記X線源からの少なくとも前記回転テーブルの回転軸に直交する扇状のX線ビームを検出するX線検出器とを備え、 前記回転テーブルの複数の回転位置でそれぞれ前記X線検出器により検出した前記被検体の複数の透過データから、前記被検体の断面像を得るコンピュータ断層撮影装置であって、 前記回転テーブルを前記X線ビームの方向に移動させるxシフト機構と、 前記回転テーブルを前記X線ビームの面に沿って前記X線ビームを横切る方向に移動させるyシフト機構と、 少なくとも前記yシフト機構により前記回転テーブルの回転中心を、前記X線ビーム内の縁に近い所定の線上にあるオフセット位置、あるいは前記X線ビームの中心線上にあるセンター位置に移動させる移動位置計算手段、および移動制御手段と、 を備えて成ることを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
IPC (1):
G01N23/04
FI (1):
G01N23/04
F-Term (12):
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001FA10 ,  2G001HA01 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA08 ,  2G001KA03 ,  2G001PA11 ,  2G001PA12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • コンピュータ断層撮影装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2000-253979   Applicant:東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
  • 断層撮影装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-200330   Applicant:株式会社日立製作所

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