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J-GLOBAL ID：200903052250640094

マイクロコンピュータに於けるRAMアドレス・バスの結線テスト方法

Inventor： 浅沼 健
Applicant, Patent owner： アマノ株式会社
Agent (1)： 矢島 正和
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992286674
Publication number (International publication number)：1994110723
Application date： Sep. 30, 1992
Publication date： Apr. 22, 1994
Summary：

【要約】【目的】 マイクロコンピュータに於けるRAMアドレス・バスの結線テストを、特別な測定装置等を使用せずに簡単に、且つ、正確に行う。【構成】 アドレス・バス5のすべてがロウ状態(L)でアクセスされるメモリに特定データ「00」を書込み、次いで、テストしたいアドレス・バスのみがハイ状態(H)になるメモリに特定データ以外の任意データを書込んだ後、すべてロウ状態(L)でアクセスされるメモリの内容をチェックして結線の良否を判定する。

Claim (excerpt)：

ハードウエアがCPUとRAM並びにこれ等の間に介在されるアドレス・レコーダとアドレス・バス及びその他のデータ・バスによって構成されたマイクロコンピュータに於いて、上記アドレス・バスのすべてがロウ状態でアクセスされるメモリに所定のデータを書込み、次いで、テストしたいアドレス・バスのみがハイ状態になるメモリに上記所定データ以外の任意データを書込み、その後、すべてがロウ状態でアクセスされるメモリの内容をチェックして、その内容が上述した所定データであるか任意データであるかによって上記アドレス・バスの結線の良否を判定することを特徴とするマイクロコンピュータに於けるRAMアドレス・バスの結線テスト方法。