Pat
J-GLOBAL ID:200903052273448832

測定領域規定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000031743
Publication number (International publication number):2001219540
Application date: Feb. 09, 2000
Publication date: Aug. 14, 2001
Summary:
【要約】【課題】インキキー単位の測定領域が全て同程度の濃度値となるような測定領域を選択できるような、色調の監視や制御の際に参照する測定領域の規定方法を提供する。【解決手段】印刷中の印刷物の画像情報を用いて印刷物の絵柄の色調監視用または制御用の画像情報を測定によって得るための測定領域を規定する方法であって、インキキーごとに分割した画像領域に対して、定めてある濃度域に属する画像領域を測定領域として構成する為、画像領域の一つ一つから得られた各画像情報と、一つあるいは複数の領域選択条件とを比較し判別して測定領域の選択を行い、特には、一定以上の濃度変動量を確保する為、画像領域の濃度が領域要素濃度閾値以上であるものを領域候補として選択する等の処理を行う。
Claim (excerpt):
印刷中の印刷物の画像情報を用いて印刷物の絵柄の色調監視用または制御用の画像情報を測定によって得るための測定領域を規定する方法であって、インキキーごとに分割した画像領域に対して、定めてある濃度域に属する該画像領域を測定領域として構成するため、該画像領域の一つ一つから得られた各画像情報と、一つあるいは複数の領域選択条件とを比較し判別して測定領域の選択を行うこと、を特徴とする測定領域規定方法。
IPC (2):
B41F 31/02 ,  B41F 33/14
FI (3):
B41F 31/02 F ,  B41F 31/02 E ,  B41F 33/14 Z
F-Term (5):
2C250DB06 ,  2C250EA23 ,  2C250EB34 ,  2C250EB40 ,  2C250EB42
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

Return to Previous Page