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J-GLOBAL ID：200903052313155868
画像検査方法及び装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小西 淳美
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994062135
Publication number (International publication number)：1995249122
Application date： Mar. 08, 1994
Publication date： Sep. 26, 1995
Summary：
【要約】【目的】処理時間が短く信頼度の高い位置ずれ補正を行って画像の検査を行うことのできる画像検査方法及びその装置を提供する。【構成】補正すべき方向の基準画素データ列を抽出する。また検査対象画像上の対応する複数の検査対象画素データ列を抽出する。それらについて相関係数演算し、最大の相関係数を与える検査対象画素データ列の位置のデータ基づいて位置ずれを補正して基準画像と比較する。
Claim (excerpt)：
基準画像と比較して検査対象画像を検査する画像検査方法において、位置ずれを補正すべき方向と平行方向の線分に対応する画素列の位置である線分位置を選択する線分位置選択過程と、その線分位置選択過程で選択された線分位置の基準画像上の基準画素データ列を抽出する第1データ抽出過程と、その線分位置およびその線分位置から画素単位で線分方向に位置変化させた複数の位置から検査対象画像上の複数の検査対象画素データ列を抽出する第2データ抽出過程と、その第1データ抽出過程で抽出された基準画素データ列とその第2データ抽出過程で抽出された複数の検査対象画素データ列とから相関係数を得る相関係数演算過程と、その相関係数演算過程で得られた相関係数の中で最大の相関係数を与える検査対象画素データ列の位置のデータと前記線分位置のデータから位置ずれ量を得る位置ずれ量演算過程と、その位置ずれ量演算過程で得た位置ずれ量に基づいて位置ずれを補正して基準画像と比較して検査対象画像を検査する位置ずれ補正比較過程と、を含むことを特徴とする画像検査方法。
IPC (3)：
G06T 7/00
, B41F 33/14
, G01N 21/89
G06F 15/70 330 P
, B41F 33/14 G
, G06F 15/62 410 A
Cited by examiner (6)
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