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J-GLOBAL ID:200903052334532793
表面プラズモン共鳴測定装置に用いられる測定チップ
Inventor:
,
,
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
特許業務法人特許事務所サイクス
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003077782
Publication number (International publication number):2004286539
Application date: Mar. 20, 2003
Publication date: Oct. 14, 2004
Summary:
【課題】非特異吸着を抑制し、かつ安定した測定ベースラインを与えることができる、表面プラズモン共鳴測定装置に用いられる測定チップを提供すること。【解決手段】誘電体ブロックと、この誘電体ブロックの一面に形成された金属膜と、光ビームを発生させる光源と、前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと金属膜との界面で全反射条件が得られるように、かつ、種々の入射角成分を含むようにして入射させる光学系と、前記界面で全反射した光ビームの強度を測定して表面プラズモン共鳴の状態を検出する光検出手段とを備えてなる表面プラズモン共鳴測定装置に用いられるための測定チップであって、上記誘電体ブロックと上記金属膜とから構成され、上記誘電体ブロックが、前記光ビームの入射面、出射面および前記金属膜が形成される一面の全てを含む1つのブロックとして形成され、この誘電体ブロックに前記金属膜が一体化され、かつ前記金属膜が疎水性高分子化合物でコーティングされている上記の測定チップ。【選択図】 なし
Claim (excerpt):
誘電体ブロックと、この誘電体ブロックの一面に形成された金属膜と、光ビームを発生させる光源と、前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと金属膜との界面で全反射条件が得られるように、かつ、種々の入射角成分を含むようにして入射させる光学系と、前記界面で全反射した光ビームの強度を測定して表面プラズモン共鳴の状態を検出する光検出手段とを備えてなる表面プラズモン共鳴測定装置に用いられるための測定チップであって、上記誘電体ブロックと上記金属膜とから構成され、上記誘電体ブロックが、前記光ビームの入射面、出射面および前記金属膜が形成される一面の全てを含む1つのブロックとして形成され、この誘電体ブロックに前記金属膜が一体化され、かつ前記金属膜が疎水性高分子化合物でコーティングされている上記の測定チップ。
IPC (4):
G01N33/543
, G01N21/03
, G01N21/13
, G01N21/27
FI (4):
G01N33/543 595
, G01N21/03 Z
, G01N21/13
, G01N21/27 C
F-Term (22):
2G057AA02
, 2G057AB07
, 2G057AC01
, 2G057BA01
, 2G057BB01
, 2G057BB06
, 2G057HA01
, 2G057HA04
, 2G059AA01
, 2G059BB04
, 2G059BB12
, 2G059BB13
, 2G059CC16
, 2G059DD12
, 2G059EE02
, 2G059FF08
, 2G059GG01
, 2G059GG10
, 2G059JJ11
, 2G059KK01
, 2G059MM14
, 2G059PP04
Patent cited by the Patent:
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