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J-GLOBAL ID：200903052338330354

ガス分析計

Inventor： 木原 信隆 ,  小島 建之助
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992023187
Publication number (International publication number)：1993188000
Application date： Jan. 12, 1992
Publication date： Jul. 27, 1993
Summary：

【要約】【目的】 ダブルセル流体変調方式のガス分析計において光チョッピングによって感度補正を行う場合、2つのセルに対応する受光室が受光する平均光量を互いに等しくすることにより、過渡特性を改善し、精度よく定量分析できるようにすること。【構成】 2つのセル1,2をそれぞれ照射するための2つの光源9,10に同一の電源11からの電力を供給すると共に、光チョッピングを行わない他の光源10に対応して設けられたセル2側の受光室IIまでの光路中に、当該受光室IIへの光量を減ずるための減光手段26を設けている。

Claim (excerpt)：

一端側にそれぞれ光源を備えた2つのセルの他端側に、セル透過後の光をそれぞれ受光するための2つの受光室を備えたニューマティック検出器を設けると共に、試料ガスと比較ガスとを、一定周期かつ一定量で、しかも、各セルを流れるガスが互いに異なるように、2つのセルに対して供給する一方、一つの光源において光チョッピングを行って測定光をセルに照射するようにしたガス分析計において、前記両光源に同一の電源からの電力を供給すると共に、光チョッピングを行わない他の光源に対応して設けられたセル側の受光室までの光路中に、当該受光室への光量を減ずるための減光手段を設けたことを特徴とするガス分析計。