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J-GLOBAL ID：200903052416419375

レール断面摩耗測定装置

Inventor： 縄田 晃史 ,  大場 正男 ,  錦城 誘策 ,  東 憲昭 ,  西田 哲郎 ,  坂元 一美
Applicant, Patent owner： 株式会社トキメック ,  西日本旅客鉄道株式会社
Agent (1)： 三品 岩男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991345347
Publication number (International publication number)：1994011315
Application date： Dec. 26, 1991
Publication date： Jan. 21, 1994
Summary：

【要約】【目的】本発明は、外乱光の影響を受けにくい、計算時間が短いおよびレ-ルの種類の識別ができることのうち少なくとも一つの機能を有するレール断面摩耗測定装置を提供することを目的とする。【構成】処理部4は、フレームメモリ(FM)7、10と、各デバイスの制御と摩耗値の計算を担当するシングルチップマイコン11と、画像デ-タの記憶先を切り替えるスイッチ(SW)5と、FM7の入出力側に接続されたA/D6およびD/A8と、差分を取る手段である2値化回路とを有する。マイコン11は、レ-ルの形状に関して基準となるデ-タと、上記CCDカメラが出力したデータを細線化する手段の機能と、上記基準となるデ-タと上記細線化されたデ-タとの偏差を求める手段の機能と、ウインドウ内の画像に対して、処理を行なう手段の機能と、レールの種類を識別する手段の機能と、基準点を求める手段の機能とを有する。

Claim (excerpt)：

レ-ルに、光を照射するXeフラッシュランプスリット光源と、レ-ルから散乱されて来た光を受光するCCDカメラと、上記CCDカメラが一定時間、受光できる様に受光時間を制御する電子シャッタ-と、上記CCDカメラが出力するXeフラッシュランプスリット光源点灯時の画像データと消光時の画像データとの差分をとる手段と、差分デ-タを画像処理して、レ-ルの形状を求める画像処理手段とを有し、上記画像処理手段は、レ-ルの形状に関して基準となるデ-タを記憶する手段と、上記差分データを細線化する手段と、上記基準となるデ-タと上記細線化されたデ-タとの偏差を求める手段とを有することを特徴とするレール断面摩耗測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開昭55-033691
  
• 特開昭51-143358
  
• 特開平2-085704
  
• 特開平2-213708
  
• 特開昭63-135849