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J-GLOBAL ID：200903052489062394
眼特性測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
橋爪 健
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002327304
Publication number (International publication number)：2004159784
Application date： Nov. 11, 2002
Publication date： Jun. 10, 2004
Summary：
【課題】収差量が多い被検眼の光学特性を精密に測定可能とする。【解決手段】第1照明光学系10は、光源部11からの光束で被検眼100を幅広いビームにより照明する。第1受光部21Aは、第1変換部材22Aで少なくとも実質的に17本のビームに変換された被検眼からの反射光束を受光する。第1補償光学部60Aは、第1照明光学系10中に配置され、被検眼100への照明光束に対して収差を補償する。一方、第2補償光学部60Bは、第1受光光学系20A中に配置され、被検眼100からの反射光束の収差を補償する。演算部は、第1受光部21Aの出力に基づいて収差を打ち消すための補償量を求め、第1及び第2補償光学部60A及び60Bを変形させ、収差を補償する。さらに、演算部は、補償後の第1受光部21Aの出力に基づく光学特性と、補償した光学特性に基づき、被検眼100の光学特性を求める。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
第1波長の光束を発する第1光源部と、
上記第1光源部からの光束で被検眼網膜上の微小な領域を幅広いビームにより照明するための第1照明光学系と、
被検眼網膜から反射して戻ってくる反射光束の一部を、少なくとも実質的に17本のビームに変換する長焦点又は高感度のレンズ部を有する第1変換部材を介して受光するための第1受光光学系と、
被検眼網膜から反射して戻ってくる反射光束の一部を、少なくとも実質的に17本のビームに変換する短焦点又は低感度のレンズ部を有する第2変換部材を介して受光するための第2受光光学系と、
上記第1受光光学系の受光光束を受光する第1受光部と、
上記第2受光光学系の受光光束を受光する第2受光部と、
上記第1受光部及び/又は上記第2受光部の出力に基づき被検眼の光学特性を求め、該光学特性に従い収差を打ち消すための補償量を求めて出力する補償量演算部と、
上記補償量演算部から出力された補償量に従って、上記第1照明光学系からの照明光束及び被検眼網膜からの反射光束の両方に対して収差の補償を行う補償光学部と、
上記補償光学部による補償後の上記第1受光部及び/又は上記第2受光部の出力に基づく光学特性と、上記補償光学部で補償した光学特性に基づき、被検眼の光学特性を求める測定演算部と
を備えた眼特性測定装置。
IPC (1)：
FI (2)：
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