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J-GLOBAL ID：200903052522191073

コヒーレントクロストーク光の測定方法および装置

Inventor：
後藤 了祐

About 後藤 了祐

, 
関屋 元義

About 関屋 元義


Applicant, Patent owner：
富士通株式会社

About 富士通株式会社


Agent (1)： 笹島 富二雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004355289
Publication number (International publication number)：2006162464
Application date： Dec. 08, 2004
Publication date： Jun. 22, 2006
Summary：
【課題】コヒーレントクロストーク(CXT)光の発生量を高い精度で測定できる方法および装置を提供する。 【解決手段】鋸波状に周波数変調した測定光を光源部11で生成して被測定物DUTに与え、被測定物DUTから出射される透過光およびCXT光を可変光減衰器13を介して受光部12に送り、受光器12Aで光電変換した電気信号を周波数フィルタ12Bに与えることで透過光とCXT光の光周波数差に相当するビート成分を抽出し、そのビート成分のパワーが極大値となるように測定光の変調周期を制御し、最適化された変調周期を一定に保持しつつ、可変光減衰器13の光減衰量を変化させ、その時生じるビート成分のパワーの変化の割合を基に被測定物DUTにおけるCXT量を測定する。 【選択図】図2
Claim (excerpt)：
被測定物内に存在する複数の反射点の間で光が多重反射することにより発生するコヒーレントクロストーク光を測定するための方法において、 単一縦モード発振するレーザ光源から出射される光の周波数を可変の周期で鋸波状に変調した測定光を生成し、 該生成された測定光を前記被測定物内を通る光路の一端に入射させ、 前記被測定物の光路の他端から出射される光を受光器で受光して電気信号に変換し、 該変換された電気信号を周波数フィルタに与えて、前記測定光の光周波数の最大値と最小値の差分の1/2倍に対応する周波数のビート成分を抽出し、 該抽出されたビート成分のパワーが極大値となるように前記測定光の変調周期を制御し、 該変調周期の制御によって極大値となったビート成分のパワーに基づいて、前記被測定物内でコヒーレントクロストーク光が発生しているか否かを測定することを特徴とする測定方法。
IPC (1)：
G01M 11/02
FI (2)：
G01M11/02 K ,  G01M11/02 J
F-Term (1)：
2G086KK07
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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