Pat

J-GLOBAL ID：200903052577286499

構造物の表面または内部欠陥の検知方法およびその装置

Inventor： 岡本 芳三 ,  伊藤 友久 ,  大輪 幾
Applicant, Patent owner： 日東化学工業株式会社
Agent (1)： 永井 義久
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991228017
Publication number (International publication number)：1993066208
Application date： Sep. 09, 1991
Publication date： Mar. 19, 1993
Summary：

【要約】【目的】検知精度に優れるとともに、天候に左右されない検知方式を提供する。【構成】構造物表面からの放射エネルギーを赤外線放射計2により検出して構造物の欠陥を検知する方法において、前記構造物表面1Aに対して熱ガス吹付手段8により加熱した上で、放射エネルギーを検出する。

Claim (excerpt)：

構造物表面からの放射エネルギーを赤外線放射計により検出して構造物の欠陥を検知する方法において、前記構造物表面を熱ガス吹付手段を用いて加熱した上で、放射エネルギーを検出することを特徴とする構造物表面または内部欠陥の検知方法。

IPC (2)：

G01N 25/72 ,  E04G 23/02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭63-052048
  
• 特開昭60-211344