Pat

J-GLOBAL ID：200903052577681975

過充電保護回路の機能検査方法および機能検査回路

Inventor： 北川 賀津典 ,  北田 秀彦 ,  鈴木 智久 ,  松本 佳親
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 石原 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998338001
Publication number (International publication number)：2000166107
Application date： Nov. 27, 1998
Publication date： Jun. 16, 2000
Summary：

【要約】【課題】非可逆性安全素子にダメージを殆ど与えることなく、機能動作を確実に検査することのできる過充電保護回路の機能検査方法および機能検査回路を提供する。【解決手段】電流増幅回路部23を、保護機能部5からの充電異常検出信号の供給の有無に拘わらず動作しない検査状態とする。二次電池Ba1〜Ba3の装着端子部に過充電に相当する電圧を発生させる。保護機能部5の出力信号の電圧測定により充電異常検出信号の出力の有無を検出し、その検出結果に基づいて保護機能部5の機能動作の正否を判別する。

Claim (excerpt)：

充電中の二次電池の電圧を測定して、その測定電圧が二次電池の過充電に相当する規制電圧値以上になったときに充電異常検出信号を出力する保護機能部と、前記充電異常検出信号を受けて電流増幅する電流増幅回路部と、この電流増幅回路部で増幅された電流の供給により溶断して二次電池への充電電流を遮断する非可逆性安全素子とを有する過充電保護回路の機能動作を検査する方法であって、前記電流増幅回路部を、前記充電異常検出信号の供給の有無に拘わらず動作しない検査状態として、二次電池の装着端子部に過充電に相当する電圧を発生させ、前記保護機能部の出力信号の電圧測定により前記充電異常検出信号の出力の有無を検出し、その検出結果に基づいて前記保護機能部の機能動作の正否を判別するようにしたことを特徴とする過充電保護回路の機能検査方法。

IPC (2)：

H02J 7/00 ,  H01M 10/44

FI (2)：

H02J 7/00 Q ,  H01M 10/44 Q

F-Term (13)：

5G003AA01 ,  5G003BA03 ,  5G003CA11 ,  5G003CC04 ,  5G003EA09 ,  5G003GA01 ,  5G003GA09 ,  5G003GA10 ,  5H030AA03 ,  5H030AA10 ,  5H030AS06 ,  5H030AS11 ,  5H030FF43