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J-GLOBAL ID:200903052619603325
迅速な物質の測定方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
遠山 勉 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996239510
Publication number (International publication number):1998090245
Application date: Sep. 10, 1996
Publication date: Apr. 10, 1998
Summary:
【要約】【課題】 分析対象物質の化学反応に基づき、量的相関関係を伴って生成する検出可能な物質の量を測定することによって分析対象物質の量を定量する方法において、検出可能な物質の生成反応速度を高め迅速な測定を可能にする方法を提供することを課題とする。【解決手段】 試料中の分析対象物質(生体成分等)の化学反応に基づいて色素等の検出可能な物質を生成する反応を含む反応系を用いて前記検出可能な物質を測定することにより前記分析対象物質を測定する方法において、前記検出可能な物質の生成反応を層状無機化合物(スメクタイト等の粘土鉱物等)の存在下に行って該生成反応速度を高める。
Claim (excerpt):
試料中の分析対象物質の化学反応に基づいて検出可能な物質を生成する反応を含む反応系を用いて前記検出可能な物質の量を測定することにより前記分析対象物質を測定する方法において、前記検出可能な物質の生成反応を層状無機化合物の存在下に行うことにより前記生成反応速度を高めることを特徴とする、物質の測定方法。
IPC (2):
FI (2):
G01N 31/00 Z
, G01N 21/75 Z
Patent cited by the Patent:
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