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J-GLOBAL ID：200903052635599850

測定方法

Inventor： 中島 靖 ,  島田 卓也
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 丸島 儀一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994147650
Publication number (International publication number)：1996015134
Application date： Jun. 29, 1994
Publication date： Jan. 19, 1996
Summary：

【要約】【目的】 分光特性値の測定において、波長依存性のある波長ずれに起因するような機差または経時変化を補正変換することが可能な測定方法の提供。【構成】 2つの測定機で得られた2つの分光測定値、あるいは異なる時刻における2つの分光測定値より、測定値の波長軸のずれを波長のシフト量として検出し、このシフト量を当該ずれの補正係数として補正変換する。

Claim (excerpt)：

2つの分光測定値より該測定値の波長軸のずれを波長のシフト量として検出し、このシフト量を当該ずれの補正係数として補正変換することを特徴とする測定方法。