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J-GLOBAL ID：200903052677049532

光電圧測定装置、電力又は電力量測定装置及び電気機器の保護システム

Inventor：
高橋 正雄

About 高橋 正雄


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 木内 光春
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002174959
Publication number (International publication number)：2004020348
Application date： Jun. 14, 2002
Publication date： Jan. 22, 2004
Summary：
【課題】温度変化を初めとした環境変化に強く、安定して動作することができ、しかも分圧器を省くことにより分圧器による耐絶縁性、応答速度、測定精度の制限を回避可能な、高精度で高信頼性の光電圧測定器を提供する。【解決手段】サニャック干渉計中にはニオブ酸リチウム導波路によるEO素子8が1つ配置され、ここに測定対象となる電圧7が印加されるようになっている。EO素子8の両側には偏波面を45°回転させる第1及び第2のファラデー回転子5,6が配置されている。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
測定対象となる電圧が印加される電気光学素子に偏波面保存ファイバカプラーを介して互いに逆方向に周回する偏光を送光させ、この送光により位相差の生じた両光を干渉させて前記電圧を求める光電圧測定装置において、 前記電気光学素子の両端側にはファラデー旋光子を配置して前記送光を行うことを特徴とする光電圧測定装置。
IPC (3)：
G01R15/24 ,  G01R21/06 ,  G01R31/08
FI (3)：
G01R15/07 C ,  G01R21/06 B ,  G01R31/08
F-Term (11)：
2G025AA08 ,  2G025AA12 ,  2G025AB09 ,  2G025AB10 ,  2G025AC02 ,  2G033AA01 ,  2G033AB01 ,  2G033AD13 ,  2G033AE07 ,  2G033AF01 ,  2G033AG10
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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