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J-GLOBAL ID:200903052688614231

物体の電気的測定を行う装置及び方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 青山 葆 (外3名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2001548938
Publication number (International publication number):2003527581
Application date: Dec. 20, 2000
Publication date: Sep. 16, 2003
Summary:
【要約】本発明は、物体、特には媒体中のセル、リポソーム、もしくは同様な微小物体の電気的測定を行う装置及び方法に関する。より具体的には、本発明は、媒体中のセル、リポソーム、もしくは同様な微小物体の電気生理学的測定を行う装置及び方法に関する。
Claim (excerpt):
媒体中の物体の電気的測定を行う装置であって、 使用時に前記物体がオリフィスをほぼシールし、これによって相互に電気的に絶縁された第1及び第2の空洞部が形成されるよう構成されたオリフィスを含む表面と、 使用時に前記第1の空洞部内で前記物体と導電可能に結合する第1の電極と; 使用時に前記第2の空洞部内の場所で前記物体と導電可能に結合する第2の電極と; 前記第2の空洞部内のパラメータの変化に応じた前記2つの電極間のインピーダンスの変化を測定する手段とから構成される装置。
F-Term (6):
2G060AA06 ,  2G060AA15 ,  2G060AF06 ,  2G060AG11 ,  2G060FA16 ,  2G060KA05

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