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J-GLOBAL ID：200903052732716829

光波長計

Inventor： 中西 五輪生 ,  田名網 健雄
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Agent (1)： 小沢 信助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992215220
Publication number (International publication number)：1994058817
Application date： Aug. 12, 1992
Publication date： Mar. 04, 1994
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 調整が簡単で、小型、安価な光波長計を実現する。【構成】 被測定光である1つの光束を分配する手段3と、この光分配手段3により分配された複数の光を受光するための分光感度の異なる複数の受光素子4a,4bおよび各受光素子の信号処理回路5a,5bと、前記受光素子4a,4bからの信号処理回路5a,5bの出力の比を求めて前記被測定光の光波長を求める演算回路6とを備えた構成としたことを特徴とする。また、前記光分配手段3として、ビームスプリッタ、またはハーフミラー、またはダイクロイックミラーを用いることを特徴とする。また、前記複数の受光素子4a,4bは、同一受光面上に前記被測定光のプロファイルを無視できるような配置とした複数の素子からなる受光素子アレイとしたことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

被測定光である1つの光束を分配する手段と、この光分配手段により分配された複数の光を受光するための分光感度の異なる複数の受光素子および各受光素子の信号処理回路と、前記受光素子からの信号処理回路の出力の比を求めて前記被測定光の光波長を求める演算回路とを備えた構成としたことを特徴とする光波長計。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭62-148818
  
• 特開昭55-104725
  
• 特開平2-150830
  
• 特開昭63-206637