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J-GLOBAL ID：200903052797404727
液晶表示素子の界面アンカリング強度の測定方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
高橋 敬四郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993051699
Publication number (International publication number)：1994265840
Application date： Mar. 12, 1993
Publication date： Sep. 22, 1994
Summary：
【要約】【目的】 液晶セルにおける液晶と基板の界面における方位角方向すなわち面内方向のねじれアンカリング強度を測定する新規な方法に関し、高価で大掛かりな装置類を必要とせず、比較的簡便な構成で正確に簡単に液晶表示素子の界面におけるねじれアンカリング強度を測定する方法を提供することを目的とする。【構成】 基準配向膜と被測定配向膜とを所定間隔を保って対向させ、両配向膜の配向方向が所定角度で交わるように配置する工程と、前記両配向膜の間に液晶材料を注入して液晶セルとする工程と、該液晶セルに特定の波長の直線偏光を通過せしめる工程と、検光子に前記液晶セルを通過した直線偏光を通過せしめて、該検光子の透過光の強度に基づいて、前記液晶セルにおける光のツイスト角を検出する工程と、検出した前記光のツイスト角と、前記液晶層を挟持する配向膜で決定される配向ツイスト角とを使用して所定の演算式に基づき前記被測定配向膜の前記配向膜の面内における方向の界面アンカリング強度を計算する工程とを有する。
Claim (excerpt)：
基準配向膜と被測定配向膜とを所定間隔を保って対向させ、両配向膜の配向方向が所定角度で交わるように配置する工程と、前記両配向膜の間に液晶材料を注入して液晶セルとする工程と、該液晶セルに特定の波長の直線偏光を通過せしめる工程と、検光子に前記液晶セルを通過した直線偏光を通過せしめて、該検光子の透過光の強度に基づいて、前記液晶セルにおける光のツイスト角を検出する工程と、検出した前記光のツイスト角と、前記液晶層を挟持する配向膜で決定される配向ツイスト角とを使用して所定の演算式に基づき前記被測定配向膜の前記配向膜の面内における方向の界面アンカリング強度を計算する工程とを有する液晶表示素子の界面アンカリング強度の測定方法。
IPC (3)：
G02F 1/13 101
, G01J 1/00
, G01M 11/00
