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J-GLOBAL ID：200903052814403730

容器内面検査装置

Inventor： 石坂 豊 ,  山村 辰男
Applicant, Patent owner： 富士電機株式会社
Agent (1)： 篠部 正治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998051683
Publication number (International publication number)：1999248646
Application date： Mar. 04, 1998
Publication date： Sep. 17, 1999
Summary：

【要約】【課題】食品容器等の内面の濃淡画像から暗い欠陥を検査する際、微細黒点等の暗さは濃いが無害な欠陥を不良とせず、破れ,肉薄等の暗さは薄いが致命的な欠陥を不良とする。【解決手段】(a)は薄い欠陥D1、(b)は濃い欠陥D2の夫々を通る走査線上の濃淡画像分布を示す。本発明では走査線上の各画素についての、当該画素からその前後に幅αだけ離れた2つの背景画素に対する濃淡値の差分(暗さの深まり量)を所定のしきい値で2値化して暗い欠陥を検出するが、ここで2つのしきい値THD1、THD2を設け、THD1<L1、L1<THD2<L2、但しL1:欠陥D1の濃淡値差分の最大値、L2:欠陥D2の濃淡値差分の最大値とする。(a),(b)に対応するしきい値THD1での2値画像分布は(c),(d)、同じくTHD2での2値画像分布は(e),(f)となり、2つの2値画像から欠陥D1,D2を区分し、欠陥の面積値で夫々の良否を判定する。

Claim (excerpt)：

2次元の撮像手段を介し撮像された容器内面の映像をラスタ走査して得られる映像信号をA/D変換し、この変換出力から作られる容器内面の濃淡画像を画像メモリに記憶し、この画像メモリの全体または一部の検査領域を水平方向または垂直方向に走査して容器内面の暗い欠陥部を検査する容器内面検査装置において、前記検査領域の走査によって読み出される濃淡画像信号を用い、この検査領域の濃淡画像を所定のしきい値で2値化する2値化手段と、この2値化手段により得られる2値化画像を互いに離れた白画像部分毎に分離する画像分離手段との組を、前記しきい値を異にして複数組備え、さらに、この各組毎に、当該組の画像分離手段によって分離された白画像の内、前記しきい値が当該組に次いで大きい組の白画像と空間的に重なりを持たない白画像毎の面積値を夫々当該組に対応する所定の基準値と比較する手段を備えたことを特徴とする容器内面検査装置。