Pat

J-GLOBAL ID：200903052843365634

高感度超音速分子ジェット多光子吸収イオン化質量分析装置

Inventor： 林 俊一 ,  鈴木 哲也 ,  佐伯 盛久 ,  藤井 正明
Applicant, Patent owner： 新日本製鐵株式会社 ,  株式会社日鐵テクノリサーチ ,  科学技術振興事業団
Agent (1)： 矢葺 知之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001207261
Publication number (International publication number)：2003022777
Application date： Jul. 09, 2001
Publication date： Jan. 24, 2003
Summary：

【要約】【課題】 イオンの引き出し効率が高く、信号増幅器の飽和を避けながら、かつ高感度な超音速分子ジェット多光子吸収イオン化質量分析装置を提供すること。【解決手段】 試料ガスを装置内に導入するパルスバルブと、該パルスバルブから放出された試料ガスをパルスイオン化源でイオン化するイオン化領域と、該イオン化領域にて発生したイオンを検出器に導入するイオン光学系と、該イオン光学系から引き出されたイオンを検出するイオン検出器を具備する超音速分子ジェット多光子吸収イオン化質量分析装置であって、前記イオン光学系の引き出し電極が出鼻型電極形状であり、かつ該引き出し電極の後方に円筒状のポテンシャルスイッチを配置してなる高感度超音速分子ジェット多光子吸収イオン化質量分析装置。

Claim (excerpt)：

試料ガスを装置内に導入するパルスバルブと、該パルスバルブから放出された試料ガスをパルスイオン化源でイオン化するイオン化領域と、該イオン化領域にて発生したイオンを検出器に導入するイオン光学系と、該イオン光学系から引き出されたイオンを検出するイオン検出器を具備する超音速分子ジェット多光子吸収イオン化質量分析装置であって、前記イオン光学系の引き出し電極が出鼻型電極形状であり、かつ該引き出し電極の後方に円筒状のポテンシャルスイッチを配置することを特徴とする高感度超音速分子ジェット多光子吸収イオン化質量分析装置。

IPC (4)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/64 ,  H01J 49/26

FI (4)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/64 B ,  H01J 49/26

F-Term (2)：

5C038GH11 ,  5C038HH02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 質量分析装置および質量分装置におけるダイナミックレンジを改善する方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-275111   Applicant：ザパーキン-エルマーコーポレイション
• キャリヤ-ガス中のサンプル分子の検出方法と装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-305939   Applicant：ドイチェフォルシュングスアンシュタルトフュアルフト-ウントラウムファールトエー.ファウ.
• 質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-291655   Applicant：日本電子株式会社