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J-GLOBAL ID：200903052858029398

結晶方位分布測定方法

Inventor： 竹林 重人 ,  鈴木 茂 ,  牛神 義行
Applicant, Patent owner： 新日本製鐵株式会社
Agent (1)： 石田 敬 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000109799
Publication number (International publication number)：2001296257
Application date： Apr. 11, 2000
Publication date： Oct. 26, 2001
Summary：

【要約】【課題】 試料の同一領域の二つの結晶方位分布を測定して結晶粒の位置ずれ量を検出し、補正して解析を行なう結晶方位分布測定方法を提供する。【解決手段】 本発明は、同一試料の特定領域の結晶方位分布を、異なる時間に測定し、それらの二つの結晶方位分布を比較してその変化を解析する方法において、異なる時間に測定された少なくとも二つの結晶方位分布間の仮想的な位置ずれ量を変数とし、結晶方位を特徴付ける量の相互相関関数を計算し、その最大値を与える前記変数の値を、測定領域における結晶粒の位置ずれ量として補正する。前記相互相関関数の計算をおこなう結晶方位を特徴付ける量として、(A)試料に対して任意に規定した一定方向の結晶方位ベクトル、(B)試料法線方向の結晶方位ベクトル、(C)試料圧延方向の結晶方位ベクトル、及び(D)特定な結晶方位からの角度のいずれかを使用することが好ましい。

Claim (excerpt)：

同一試料の特定領域の結晶方位分布を、異なる種々の時間に測定し、測定された少なくとも二つの結晶方位分布を比較して結晶粒の変化を解析する方法において、異なる種々の時間に測定された少なくとも二つの結晶方位分布間の同一位置での結晶粒の仮想的な位置ずれ量を変数として結晶方位を特徴付ける量の相互相関関数を計算し、その相互相関関数の最大値を与える前記変数の値を、測定領域における結晶方位の位置ずれ量として補正することを特徴とする結晶方位分布測定方法。

F-Term (18)：

2G001AA01 ,  2G001AA03 ,  2G001BA07 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001CA03 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001GA13 ,  2G001HA01 ,  2G001HA13 ,  2G001JA11 ,  2G001JA14 ,  2G001KA08 ,  2G001LA02 ,  2G001MA05 ,  2G001RA03 ,  2G001RA06