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J-GLOBAL ID:200903052862182958

分子検出の為の光学的および電気的方法ならびに装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 杉本 修司 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002260276
Publication number (International publication number):2003185662
Application date: Apr. 23, 1993
Publication date: Jul. 03, 2003
Summary:
【要約】【課題】 試料物質中の分子構造を特定するための装置を明らかにする。【解決手段】 物質中の分子構造の存在を決定する為の下記の要件を具備する装置。上記物質の供給源、各種の分子と特定の形で結合する既知の分子を含む溶液の多数の供給源、上記溶液の各々と上記物質とを選択的に混合する混合手段、および、物質の中での既知の分子と分子構造との間の結合が、混合された溶液内で出現するのを検出する検出器。
Claim (excerpt):
下記の工程を具備する分子構造を特定化する為の方法:a)テスト部位のアレーを形成し、各部位は特定の分子構造との結合の可能なプローブをその中に形成され、各テスト部位でのプローブが他のテスト部位のプローブとは異なり;b)テスト部位に試料物質を供給し;c)テスト信号をテスト部位に送り;およびd)送られた信号から生じるテスト部位の特性を検出することにより、何れのプローブが試料物質の分子構造に結合したかを判定して、多数の分子構造を識別する。
IPC (6):
G01N 33/53 ,  G01N 27/02 ,  G01N 27/22 ,  G01N 27/27 ,  G01N 27/327 ,  G01N 37/00 102
FI (6):
G01N 33/53 M ,  G01N 27/02 Z ,  G01N 27/22 Z ,  G01N 37/00 102 ,  G01N 27/30 357 ,  G01N 27/46 A
F-Term (6):
2G060AA06 ,  2G060AA15 ,  2G060AE40 ,  2G060AF06 ,  2G060AF11 ,  2G060HC13
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
  • 特開平1-137982
  • 特開昭64-074447
  • 特開平3-223674
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