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J-GLOBAL ID：200903052867998506

表面プラズモン共鳴を利用した試料の分析方法及び分析装置、並びに表面プラズモン共鳴センサチップ

Inventor： 宗林 孝明 ,  磯村 哲
Applicant, Patent owner： 三菱化学株式会社
Agent (1)： 真田 有
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001242668
Publication number (International publication number)：2003057173
Application date： Aug. 09, 2001
Publication date： Feb. 26, 2003
Summary：

【要約】【課題】 回折格子型の表面プラズモン共鳴センサチップを用いた試料の分析において、センサチップの傾きによる検出シグナルの誤差を容易に補正できるようにして正確な濃度分析を可能にする。【解決手段】 表面プラズモン共鳴センサチップ1のセンサ面1aに形成された共鳴領域8,9A〜9Eのうち一部領域9A〜9Eを試料中の検出種と特異的に結合する結合物質10を固定化しない特定領域として設け、結合物質10が固定化された反応領域8からのシグナルとともに特定領域9A〜9Eから得られるシグナルを用いて分析を行う。

Claim (excerpt)：

試料と接するセンサ面の近傍に金属層と回折格子とが設けられて、光の照射により上記金属層の表面に誘起される表面プラズモン波と上記回折格子の作用により生じるエバネッセント波との共鳴現象が生じうる共鳴領域が上記センサ面に形成され、上記共鳴領域のうちの一部反応領域に試料中の検出種と特異的に結合する結合物質が固定化された表面プラズモン共鳴センサチップを用いて行う試料の分析方法であって、上記センサ面に試料を接触させて光を照射する照射ステップと、上記センサ面からの反射光を受光し、受光した反射光のうち上記反応領域からの反射光の強度に基づき、上記反応領域での上記共鳴現象に相関するシグナルを検出する第1検出ステップと、上記センサ面からの反射光を受光し、受光した反射光のうち上記共鳴領域内で且つ上記反応領域外の特定領域からの反射光の強度に基づき、上記特定領域での上記共鳴現象に相関するシグナルを検出する第2検出ステップと、所定の標準条件下における上記特定領域での上記共鳴現象に相関する標準シグナルと今回検出された上記特定領域に対応するシグナルとの比較に基づいて今回検出された上記反応領域に対応するシグナルを補正する補正ステップと、補正された上記反応領域に対応するシグナルに基づき上記試料中の検出種の濃度を演算する濃度演算ステップとを備えたことを特徴とする、表面プラズモン共鳴を利用した試料の分析方法。

IPC (2)：

G01N 21/27 ,  G01N 33/543 595

FI (2)：

G01N 21/27 C ,  G01N 33/543 595

F-Term (9)：

2G059AA01 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ05 ,  2G059KK04 ,  2G059NN06 ,  2G059PP01