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J-GLOBAL ID：200903052968161410

円筒状物体の内径測定方法

Inventor： 加藤 誠 ,  宮木 強
Applicant, Patent owner： 浜松ホトニクス株式会社
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993192329
Publication number (International publication number)：1995047060
Application date： Aug. 03, 1993
Publication date： Feb. 21, 1995
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、X線吸収特性及び内径が経時的に変化する円筒状物体に対し、高精度に内径を測定する円筒状物体の内径測定方法を提供する。【構成】 X線源11から出射されたX線12は、被写体13における所定の被照射部位を透過してX線撮像装置の検出面32で受光され、被写体13のX線像を投影する。このX線12は、血管31の周囲組織あるいは血管31の内部を流れる造影剤により吸収されて減衰しており、その投影プロファイル34では、血管31の周辺部付近を投影したボケ33によって平坦化部35が生じている。この投影プロファイルの勾配が極大または極小となる二つの位置に挟まれた区間を算出し、当該区間内から所定の間隔で配置された複数位置に対応する投影プロファイル及びその勾配のデータ値を抽出し、最小二乗法を用いて投影プロファイルを適正化すると、基底レベルから変化する二つのエッジの間隔から血管径が算出される。

Claim (excerpt)：

外部と異なるX線吸収特性を有する流体が内部を流れる円筒状物体にX線を照射し、該円筒状物体の中心軸及び該X線の進行方向に垂直な直線上で該X線吸収特性に基づく投影プロファイルを測定することにより、該投影プロファイルから該円筒状物体の内径を算出する円筒状物体の内径測定方法において、前記投影プロファイルを対数変換し、該投影プロファイルから前記外部が寄与したレベルを減算する第1の工程と、この第1の工程で算出された前記投影プロファイルを微分し、該投影プロファイルの勾配が極大または極小となる前記直線上の二つの位置に挟まれた区間を算出する第2の工程と、前記区間内から所定の間隔で複数位置を選択し、前記第1の工程で算出された前記投影プロファイル、該投影プロファイルの勾配から該複数位置に対応してそれぞれ第1のデータ値、第2のデータ値を抽出する第3の工程と、前記第1及び第2のデータ値にそれぞれ最小二乗法を用いて前記第1の工程で算出された前記投影プロファイルを適正化し、該投影プロファイルにおける基底レベルから変化する二つのエッジの間隔から前記円筒状物体の内径を算出する第4の工程とを備えることを特徴とする円筒状物体の内径測定方法。

IPC (3)：

A61B 6/00 331 ,  A61B 6/00 ,  G01B 15/00