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J-GLOBAL ID:200903053002618950

測距装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 松田 和子
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992216131
Publication number (International publication number):1994288764
Application date: Aug. 13, 1992
Publication date: Oct. 18, 1994
Summary:
【要約】【目的】 外来光ノイズを十分に除去することができ、高精度の測距が可能な測距装置を提供することである。【構成】 第1の周波数で変調された照射光を対象物へ照射する投光手段11と、照射光の対象物による反射光を受光して光電変換信号を出力する受光手段13と、光電変換信号をアナログ処理するアナログ処理回路19と、アナログ処理回路19からの出力信号を第2の周波数でサンプリングしてデジタル信号に変換するA/Dコンバ-タ20と、A/Dコンバ-タ20から順次出力されるデジタル信号系列を離散的フ-リエ変換のサンプル値系列として離散的フ-リエ変換の演算処理を行なう演算回路24と、演算回路24での演算結果に基いて対象物までの距離を決定する距離決定手段26とにより、測距装置を構成する。
Claim (excerpt):
第1の周波数で変調された照射光を対象物へ照射する投光手段と、上記照射光の対象物による反射光を受光して光電変換信号を出力する受光手段と、上記光電変換信号をアナログ処理するアナログ処理回路と、上記アナログ処理回路からの出力信号を第2の周波数により所定のサンプリング数でサンプリングしてデジタル信号に変換する変換回路と、上記変換回路から順次出力されるデジタル信号系列を離散的フ-リエ変換のサンプル値系列として離散的フ-リエ変換の演算処理を行なう演算回路と、上記演算回路での演算結果に基いて対象物までの距離を決定する距離決定手段とからなる測距装置。
IPC (3):
G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36
FI (2):
G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開昭60-162901
  • 特開昭60-052705

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