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J-GLOBAL ID：200903053004924209

散乱光量測定装置

Inventor： 柴田 治郎 ,  伊藤 正彦 ,  伊藤 勝良
Applicant, Patent owner： 株式会社日本技研
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997130493
Publication number (International publication number)：1998300669
Application date： May. 01, 1997
Publication date： Nov. 13, 1998
Summary：

【要約】【目的】 外部からの光雑音に影響され難く、且つ、散乱光量の高速変化に応答する計測が可能な散乱光量測定装置を提供すること。【構成】 光量が一定周波数で変化する照射光を光散乱箇所に照射して、この箇所から散乱してくる散乱光量を光電変換器で電圧信号に変換した後、前記周波数のバンドパスフィルタで濾過し、且つ、照射光の周期に同期させた周期でこの電圧信号のピ-ク値などの特定の瞬時値を測定して散乱光量を計測するようにした。

Claim (excerpt)：

照射光を光散乱する箇所に照射して、この箇所からの光散乱の度合を散乱光量から計測する場合において、光量が一定周波数で変化する照射光を光散乱箇所に照射して、この箇所から散乱してくる散乱光量を光電変換器で電気信号に変換した後、前記周波数のバンドパスフィルタで濾過し、且つ、照射光の周期に同期させた周期でこの電気信号のピ-ク値などの特定の瞬時値を測定して散乱光量を計測するようにしたことを特徴とする。

IPC (4)：

G01N 21/47 ,  G01B 11/30 102 ,  G01J 3/50 ,  G01N 21/27

FI (4)：

G01N 21/47 Z ,  G01B 11/30 102 Z ,  G01J 3/50 ,  G01N 21/27 Z