Pat

J-GLOBAL ID：200903053036748801

異常診断支援用解析装置

Inventor： 中之薗 利彦
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 田澤 博昭 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995021959
Publication number (International publication number)：1996221117
Application date： Feb. 09, 1995
Publication date： Aug. 30, 1996
Summary：

【要約】【目的】 プラントの保守員等の実際の設備機器に対する知識を有する人間が状況に応じて劣化診断及び異常診断することを支援する異常診断支援用解析装置を得る。【構成】 データベース10からセンサ等からの信号を読み出し、信号の信号特徴量を抽出する信号特徴抽出部6と、得られた信号の信号特徴量並びにマンマシンインタフェース部9を介したユーザの選択に応じて信号に対して有効な解析手法を選択する解析選択部7と、解析の手順の知識を参照して選択された解析手法を用いて解析する解析実行部8とを備えている。信号の信号特徴量としては、例えば信号波形の複雑度を示すピークに関する信号特徴量、フラクタル次元又は基本統計量が使用される。

Claim (excerpt)：

プラント設備等の機器又は装置に設けられた各種の測定手段から発生する信号に基づいて異常現象を解析し、ユーザが行う異常診断及び劣化診断を支援する異常診断支援用解析装置において、前記信号を取り込み保存するデータベース手段と、前記データベース手段から前記信号を読み出し、前記信号の特徴を示す信号特徴量を抽出する信号特徴抽出手段と、前記信号特徴抽出手段により得られた前記信号の特徴を示す少なくとも1つの信号特徴量並びに前記ユーザの選択に応じて前記信号に対して有効な解析手法を選択して実行する解析手段と、少なくとも前記解析手段と前記ユーザとの間の前記選択において対話式の入出力を実現するマンマシンインタフェース手段とを備えたことを特徴とする異常診断支援用解析装置。

IPC (2)：

G05B 23/02 302 ,  G05B 23/02

FI (3)：

G05B 23/02 302 V ,  G05B 23/02 302 Y ,  G05B 23/02 X