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J-GLOBAL ID：200903053071329781
キメチェッカー
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
松浦 恵治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996097367
Publication number (International publication number)：1997262135
Application date： Mar. 28, 1996
Publication date： Oct. 07, 1997
Summary：
【要約】【課題】 本発明の課題は、個々人によって異なる肌の表面状態、即ち肌の表面の細かいあや(以下単に「キメ」という)のタイプを測定するキメチェッカを提供することにある。【解決手段】 顔の一部を覆い隠すことができる程度の大きさのチェッカー基板であって、その一部に測定対象肌を見通すことができる切欠き部を形成し、この切欠き部のすぐ近くのチェッカー基板表面にキメのタイプの代表見本写真を数種類表示する見本表示部を設けたことを特徴とする。
Claim (excerpt)：
顔の一部を覆い隠すことができる程度の大きさのチェッカー基板であって、その一部に測定対象肌を見通すことができる切欠き部を形成し、この切欠き部のすぐ近くのチェッカー基板表面にキメのタイプの代表見本写真を数種類表示する見本表示部を設けたことを特徴とするキメチェッカー。
Patent cited by the Patent：
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