蛍光測定装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999199113
Publication number (International publication number)：2001027605
Application date： Jul. 13, 1999
Publication date： Jan. 30, 2001
Summary：

【要約】【課題】励起光による励起時間が可変とされるとともに、測定効率が向上された蛍光測定装置を提供する。【解決手段】試料30を励起する励起光源として半導体紫外光源であるUV-LED31を用いてその発光時間に相当する試料30の励起時間を可変とするとともに、LED31の発光による励起時間、光検出器32による蛍光の検出時間、及び励起終了から検出開始までの時間である不測時間等の測定条件を、蛍光測定が効率的に実行可能なように測定条件設定部10において選択・設定し、設定された測定条件によって駆動制御部20を介して各部を駆動して測定を行う。以上の構成により、蛍光試料の種類やその蛍光時定数などの個々の測定における諸条件に応じて好適な測定条件を実現する蛍光測定装置とすることができる。

Claim (excerpt)：

励起光によって励起された試料からの蛍光を測定する蛍光測定装置であって、半導体紫外光源を用いて構成され、所定の励起時間にわたって前記励起光を前記試料に照射する励起手段と、所定の検出時間にわたって前記試料から放出された前記蛍光を検出する検出手段と、前記励起時間及び前記検出時間を含む測定条件を選択し設定する測定条件設定手段と、前記測定条件設定手段によって設定された前記測定条件に基づいて、前記励起手段及び前記検出手段を駆動する駆動制御手段と、を有することを特徴とする蛍光測定装置。

F-Term (11)：

2G043AA01 , 2G043EA01 , 2G043FA03 , 2G043GA06 , 2G043GA08 , 2G043GB21 , 2G043KA03 , 2G043LA02 , 2G043MA01 , 2G043MA11 , 2G043NA06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

蛍光画像読み取り方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-112381 Applicant：富士写真フイルム株式会社
塩基配列決定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-327393 Applicant：株式会社島津製作所
酸素濃度測定用センサおよびその製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-288637 Applicant：株式会社オートマチック・システムリサーチ

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