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J-GLOBAL ID：200903053128955374

ウイルス除去膜のインテグリティテスト方法

Inventor： 佐藤 哲男
Applicant, Patent owner： 旭化成工業株式会社
Agent (1)： 清水 猛 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993303302
Publication number (International publication number)：1995132215
Application date： Nov. 10, 1993
Publication date： May. 23, 1995
Summary：

【要約】【構成】?@ ウイルス除去膜の使用後に行われる性能確認試験(インテグリティテスト)において、(1)本来有している孔径分布から外れた大きな孔の有無を検出するテストと、(2)本来有している孔径分布の形が全体的に大きくなることによる平均孔径の変化の程度を検出するテストを逐次行なうこと。?A テスト(1)がリークテストであること。?B リークテストの液体が水、気体が空気または窒素であること。?C テスト(2)が代替粒子の濾過であること。?D 代替粒子が金コロイドであること。【効果】 ウイルス除去膜の使用後に実施される膜の性能保証は、従来法に比較して格段に正確性が向上した。

Claim (excerpt)：

ウイルス除去膜の孔径分布において、(1)本来有している孔径分布から外れた大きな孔の有無を検出するテストと、(2)本来有している孔径分布の形が全体的に大きくなることによる平均孔径の変化の程度を検出するテストを逐次行なうことを特徴とする、ウイルス除去膜のインテグリティテスト方法。

IPC (2)：

B01D 65/10 ,  G01N 15/08