Pat
J-GLOBAL ID：200903053132275302
3次元座標計測方法及び計測装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000033457
Publication number (International publication number)：2001221636
Application date： Feb. 10, 2000
Publication date： Aug. 17, 2001
Summary：
【要約】【課題】 大型構造物に対してもその3次元座標を短時間で、且つ高精度に自動計測できる。【解決手段】 測定対象物表面上のターゲット点までの直線距離を測定する光波距離計1aとその光軸の傾け角度を測定する測角計1bとを用い、光波距離計1aの光軸をターゲット点に合わせ込んだ時の測定距離と測定角度からターゲットの3次元座標を計測する3次元座標計測方法において、予め測定対象物表面のミクロ視準範囲内にターゲットが存在するかを検出し、且つモータ2,3によりこの範囲を測定対象物全体でステップ状に走査して、複数のターゲット点に対する概略の3次元座標を認識し、次いで認識されたターゲット点の1つがミクロ視準範囲内に入るように光波距離計1aの光軸を概略合わせ込み、しかるのち光波距離計1aの光軸がターゲット点の1つに一致するように合わせ込む。
Claim (excerpt)：
測定対象物体の表面上の測点に設置されたターゲット点までの直線距離を測定する光波距離計と該光波距離計の光軸の傾け角度を測定する測角計とを用い、光波距離計の光軸を測定対象物体表面上のターゲット点に合わせ込んだ後の測定距離と測定角度からターゲットの3次元座標を計測する3次元座標計測方法であって、前記測定対象物体表面から所定の視準範囲内に入射した光量を検出して、該範囲内にターゲットが存在するか否かを判断し、且つ測定対象物体表面全体を視準視野範囲間隔でステップ状に走査して、測定対象物体表面上の複数のターゲット点に対する概略の3次元座標を認識する座標認識ステップと、前記座標認識ステップにより認識されたターゲット点の1つが前記視準範囲内に入るように前記光波距離計の光軸を概略合わせ込むマクロ視準ステップと、前記マクロ視準ステップにより概略合わせ込まれた光波距離計の光軸が前記ターゲット点の1つに一致するように合わせ込むミクロ視準ステップと、を有することを特徴とする3次元座標計測方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01C 15/00 A
, G01B 11/00 A
2F065AA04
, 2F065AA06
, 2F065BB05
, 2F065BB27
, 2F065CC14
, 2F065DD06
, 2F065FF04
, 2F065FF11
, 2F065FF24
, 2F065FF65
, 2F065HH13
, 2F065JJ09
, 2F065KK02
, 2F065LL16
, 2F065MM15
, 2F065MM25
, 2F065PP05
, 2F065PP22
, 2F065QQ23
, 2F065UU05
, 2F065UU06
