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J-GLOBAL ID：200903053171214183

非破壊検査装置

Inventor： 宮井 裕史 ,  北口 博司 ,  出海 滋 ,  佐藤 克利 ,  青木 康子
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997001136
Publication number (International publication number)：1998197456
Application date： Jan. 08, 1997
Publication date： Jul. 31, 1998
Summary：

【要約】【課題】大型構造物の検査が可能で、機動力が高く、場所移動によるアライメントを短時間に行い、検査効率を向上する。【解決手段】X線発生装置1と、検査体を挟んで対向する位置に配置するX線検出装置2からなる非破壊検査装置において、X線発生装置1およびX線検出装置2の相対的な位置関係を測定する相対位置測定手段と、測定手段の測定結果に基づき、X線発生装置1およびX線検出装置2のX線の発生と検出に関わる相互の幾何学的な構造から定まる位置関係に調整するX線発生装置1の姿勢制御手段と、X線検出装置2の姿勢制御手段を備えたことを特徴とする非破壊検査装置。

Claim (excerpt)：

X線発生装置と、検査体を挟んで対向する位置に配置するX線検出装置とからなる非破壊検査装置において、前記X線発生装置および前記X線検出装置の相対的な位置関係を測定する相対位置測定手段と、前記測定手段の測定結果に基づき、前記X線発生装置および前記X線検出装置のX線の発生と検出に関わる相互の幾何学的な構造から定まる位置関係に調整する前記X線発生装置の姿勢制御手段と、前記X線検出装置の姿勢制御手段とを備えたことを特徴とする非破壊検査装置。

IPC (4)：

G01N 23/04 ,  E01C 23/01 ,  G01M 19/00 ,  G01N 23/18

FI (4)：

G01N 23/04 ,  E01C 23/01 ,  G01M 19/00 Z ,  G01N 23/18