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J-GLOBAL ID：200903053199037953

量子確率過程の計測装置

Inventor： 瀬戸 明 ,  久光 正
Applicant, Patent owner： 瀬戸 明 ,  久光 正
Agent (1)： 杉村 暁秀 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995033601
Publication number (International publication number)：1996227682
Application date： Feb. 22, 1995
Publication date： Sep. 03, 1996
Summary：

【要約】【目的】 量子のランダム性を利用して発生させたランダムパルスのランダム性を計測することができる粒子確率過程の計測装置を提供する。【構成】 気体放電の電子遷移による光量子を光電変換してランダムパルスを発生させ、これを第1のカウンタ54によって計数するとともに、デューティ比が50% の制御パルスで開閉制御されるゲート回路55を経て第2のカウンタ56で計数する。第2カウンタの計数値が第1カウンタの計数値の1/2 に等しいかまたはその近傍の値である場合には、ランダムパルスはほぼ完全なランダム性を有していると判定する。

Claim (excerpt)：

量子のランダム性に基づくランダムパルスを発生する手段と、このランダムパルスを計数して第1の計数値を生じる第1のカウント手段と、第1および第2の信号状態の持続時間の比率であるデューティ比が所定の値を有する制御信号を発生する手段と、前記ランダムパルスおよび制御信号を受け、制御信号が第1の信号状態のときにはランダムパルスを通し、第2の信号状態のときにはランダムパルスを通さないゲート手段と、このゲート手段を通ったランダムパルスを計数して第2の計数値を生じる第2のカウント手段とを具え、前記第1のカウント手段で計数される第1の計数値と、前記第2のカウント手段で計数される第2の計数値とから、ランダムパルスの量子確率過程を計測するように構成したことを特徴とする量子確率過程の計測装置。

IPC (3)：

H01J 37/24 ,  H03K 3/84 ,  A61B 10/00

FI (3)：

H01J 37/24 ,  H03K 3/84 Z ,  A61B 10/00 E